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「技術奨励賞」の受賞に貢献
株式会社IHI検査計測様より、一般社団法人非破壊検査工業会による令和5年度総会（2023年6月26日開催）において「技術奨励賞」を受賞したとのご連絡を頂きました。この賞には、同社と本講座の団体で申請しており、産官学が連携した活動を通して非破壊検査技術の発展と普及に貢献したことが表彰理由として挙げられております。本WEBサイトからもお知らせいたしたく掲載します。
★詳細は、https://www.jandt.or.jp/aboutus/kaiho/127.pdf （工業会会報 第127号のｐ.1ページ目）にてご覧頂けます。
